광 연결 솔루션(광 커넥터, 구조화 케이블, 분배기 및 이를 수용하는 인클로저)은 연결 집약적인 중앙국, 데이터 센터 및 광 분배망의 핵심입니다. 통신, 데이터 통신, 무선 백홀, FTTx 외에도 새로운 슈퍼컴퓨팅 애플리케이션이 부상하고 있으며, 해군, 항공, 군사 애플리케이션도 계속해서 증가하고 있습니다. 이러한 모든 시장은 더 높은 대역폭에 대한 수요에 의해 주도되고 있습니다. 설치 비용 절감 및 구축 속도 향상을 위한 필요성에 따라 새로운 커넥터 형식이 시장에 출시되고 있습니다.
그러나 이러한 연결 지점의 품질과 광학 성능은 종종 간과됩니다. 삽입 손실과 반사 손실(IL 및 RL)이 낮으면 네트워크 성능에 광범위한 영향을 미칠 수 있습니다. 성능 저하로 인해 도달 범위와 안정성이 직접적으로 영향을 받을 수 있으며, 심지어 기술 업그레이드로 가는 길마저 막힐 수 있습니다. 동시에, 경제적 요인으로 인해 제조업체는 지속적으로 비용을 절감하고, 생산 속도를 높이고, 출시 기간을 단축해야 합니다.
VIAVI 수동 부품/커넥터 테스트 솔루션(PCT)은 광 연결 제품의 삽입 손실, 반사 손실, 물리적 길이 및 극성을 테스트하는 강력한 모듈, 소프트웨어 및 주변 장치 제품군으로 구성됩니다. VIAVI MAP 시리즈 플랫폼의 모듈성과 연결성을 활용하여 PCT는 R&D, 생산 또는 품질 검증 테스트 환경에 맞게 구성할 수 있으며, 단일 모드에서 OM1 및 OM4까지 모든 주요 광섬유 유형을 처리할 수 있습니다.
| 구분 | 언어 | 제목 | 다운로드 |
| Brochure | ENG | Easy Environmental and Shock Testing of Optical Passive Components |
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| Brochure | ENG | Easy Environmental and Shock Testing of Optical Passive Components |
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| Brochure | ENG | Future Proofing Your IL/RL Testing |
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| Brochure | ENG | Passive Component/Connector Test Solution |
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| Brochure | ENG | Testing, Inspection and Cleaning Solutions for Optical Connector Manufacturers |
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| Datasheet | ENG | Insertion Loss/Return Loss Testing (mORL) |
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| Datasheet | ENG | MAP-Based Insertion Loss/ Return Loss Testing Solution |
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| Datasheet | ENG | Multiple Application Platform |
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| Notes | ENG | Comparing Optical Return Loss (ORL) Measurement Methods |
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